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有图晶圆关键尺寸及套刻量测系统应用在Fab厂，用于把控Wafer关键尺寸是否合格及套刻偏移量的计算与补偿。
实现产品的自动上料、自动检测、根据检测结果自动分拣下料
VX9000系列光学扫描成像测量机突破传统的测量方式，应用于PCB&FPC外型尺寸扫描测量、冲压五金件、车载屏面板、铝基板，高效执行“成型检验+孔品质检验+尺寸量测”，一键自动实现全尺寸扫描。
588888纽约国际线路检测中心仪器新一代智能爬坡双侧轮廓粗糙度测量仪SJ5780隆重上市，该仪器爬坡能力强、功能丰富，非常适合航空航天、船舶、高铁、新能源汽车、医疗等行业，可测轴类、齿轮、叶片、丝杆、螺纹、轴承等高精度部件。解决复杂测量问题，操作却异常简单轻松，给您全新体验！
